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Centre d’Excellence en Caractérisation

Le Centre d’Excellence en Caractérisation (CEC) réunit les experts du CSEM, de la Haute Ecole Arc (HE-Arc) et du Paul Scherrer Institute (PSI) et leur parc d’instruments de caractérisation pour répondre au mieux à votre demande. L’accès à ces équipements d’imagerie 3D à haute résolution, d’analyse des matériaux et de mesures dimensionnelles vous est désormais facilité.

Caractérisation des micro- et nano-structures

La caractérisation nano- et microstructurale contribue à une meilleure compréhension de la relation entre les propriétés physiques des matériaux et leur structure. Le CEC dispose
d’instruments d’analyse par diffraction des rayons X, de microscopes à force atomique, de microscopes électroniques à balayage environnemental (MEB ou SEM), de microscopes électroniques en transmission à haute résolution, de microscopes à balayage par transmission de rayons X (MBTX ou STXM), de microscopes à photoémission d’électrons (PEEM)
et de nano-tomographes à rayons X.

Métrologie dimensionnelle et inspection

Le CEC dispose d’instruments de mesures 3D, de systèmes de vision et de tomographie à rayons X pour des mesures dimensionnelles et géométriques d’une précision micrométrique, voire de l’ordre d’une dizaine de nanomètres pour de très petits volumes. Nos dispositifs de tomographie assurent un contrôle non destructif des volumes intérieurs et
extérieurs d’une pièce, et permettent ainsi d’inspecter et de contrôler la qualité de vos assemblages. Le CEC est également équipé de microscopes confocaux et 3D offrant la possibilité d’analyser les états de surface (paramètres de rugosité avec une résolution verticale de quelques dizaines de nanomètres).
Grâce aux équipements de diffraction de rayons X sur poudres et de surface, il est possible de détecter de très faibles quantités (0.05% en masse) d’impuretés et ainsi d’atteindre
des résolutions sous-Angstrom aux niveaux des surfaces et interfaces.

Tests mécaniques et tribologiques

Le CEC dispose d’un éventail de moyens d’analyse pour quantifier les propriétés mécaniques des matériaux et des couches minces – tests de traction, dureté, adhérence (bulge et scratch test) – ou pour caractériser leurs propriétés tribologiques – mesures des taux d’usure et coefficient de frottement. L’analyse des comportements mécaniques et tribologiques à l’échelle du nanomètre permet aux experts du CEC de vous guider vers des solutions pour améliorer les fonctionnalités de vos produits.

Analyse de composition chimiques

Le CEC dispose de nombreuses méthodes analytiques qui permettent de quantifier la composition chimique des surfaces, des couches minces et des échantillons massifs. Nous mettons à votre disposition toute une gamme d’équipements de mesure pour des investigations s’étendant de la surface supérieure à des profondeurs de plusieurs micromètres. Selon votre demande, nous sélectionnerons la méthode d’analyse la plus appropriée au regard des informations souhaitées.

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